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CAT28C16A
Table 4. RELIABILITY CHARACTERISTICS (Note 4)
Symbol
N END (Note 5)
T DR (Notes 5)
V ZAP
I LTH (Note 6)
Endurance
Data Retention
ESD Susceptibility
Latch ? Up
Parameter
Min
100,000
100
2,000
100
Max
Units
Cycles/Byte
Years
V
mA
4. This parameter is tested initially and after a design or process change that affects the parameter.
5. For the CAT28C16A ? 20, the minimum endurance is 10,000 cycles and the minimum data retention is 10 years.
6. Latch ? up protection is provided for stresses up to 100 mA on address and data pins from ? 1 V to V CC + 1 V.
Table 5. D.C. OPERATING CHARACTERISTICS (V CC = 5 V ± 10%, unless otherwise specified.)
Limits
Symbol
I CC
I CCC (Note 7)
I SB
I SBC (Note 8)
I LI
I LO
V IH (Note 8)
V IL (Note 7)
Parameter
V CC Current (Operating, TTL)
V CC Current (Operating, CMOS)
V CC Current (Standby, TTL)
V CC Current (Standby, CMOS)
Input Leakage Current
Output Leakage Current
High Level Input Voltage
Low Level Input Voltage
Test Conditions
CE = OE = V IL ,
f = 1/t RC min, All I/O’s Open
CE = OE = V ILC ,
f = 1/t RC min, All I/O’s Open
CE = V IH , All I/O’s Open
CE = V IHC , All I/O’s Open
V IN = GND to V CC
V OUT = GND to V CC ,
CE = V IH
Min
? 10
? 10
2
? 0.3
Typ
Max
35
25
1
100
10
10
V CC + 0.3
0.8
Units
mA
mA
mA
m A
m A
m A
V
V
V OH
V OL
V WI
High Level Output Voltage
Low Level Output Voltage
Write Inhibit Voltage
I OH = ? 400 m A
I OL = 2.1 mA
2.4
3.0
0.4
V
V
V
7. V ILC = ? 0.3 V to +0.3 V
8. V IHC = V CC ? 0.3 V to V CC + 0.3 V
Table 6. A.C. CHARACTERISTICS, READ CYCLE (V CC = 5 V ± 10%, unless o therwise specified.)
28C16A ? 90
28C16A ? 12
28C16A ? 20
Symbol
Parameter
Min
Max
Min
Max
Min
Max
Units
t RC
t CE
t AA
t OE
t LZ (Note 9)
t OLZ (Note 9)
t HZ (Notes 9, 10)
t OHZ (Notes 9,
10)
t OH (Note 9)
Read Cycle Time
CE Access Time
Address Access Time
OE Access Time
CE Low to Active Output
OE Low to Active Output
CE High to High ? Z Output
OE High to High ? Z Output
Output Hold from Address Change
90
0
0
0
90
90
50
50
50
120
0
0
0
120
120
60
50
50
200
0
0
0
200
200
80
55
55
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
9. This parameter is tested initially and after a design or process change that affects the parameter.
10. Output floating (High ? Z) is defined as the state when the external data line is no longer driven by the output buffer.
http://onsemi.com
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